

Introducción:
Los instrumentos dimensionales que se utilizan de forma generalizada en los procesos industriales deben someterse a control metrológico a fin de asegurar el buen funcionamiento de dichos procesos. Este curso está orientado a ofrecer una serie de conocimientos y métodos que nos faciliten este control metrológico.
Objetivos del curso/jornada:
A quién va dirigido:
Técnicos o responsables de calidad o metrología.
Contenido/Programa:
1. Conceptos metrológicos generales, incertidumbre(I) y trazabilidad.
2. Comparadores y pies de rey.
3. Incertidumbre de medida (II).
4. Proyectores de perfiles.
5. Máquinas de coordenadas
6. Conclusiones
Profesores/Ponentes:
Jordi Gil del Rio, Dpto. Técnico de Metrología de Applus+ LGAI
Traian Onaciu, Dpto. Técnico de Metrología de Applus+ LGAI
Otra información de interés:
De 9:30h a 13:30h y 15:30h a 18:00 h
Incluye desayuno, almuerzo y documentación.
Se entregará un certificado de Applus+Formación a los asistentes.